Rastersondenmikroskop „Veeco di CP-II“
Rastersondenmikroskop „Veeco di CP-II“
Dieses Mikroskop arbeitet nicht optisch, sondern bezieht seine Informationen aus der Wechselwirkung der Messspitze mit der zu untersuchenden Oberfläche. Durch das Abrastern eines größeren Bereichs lassen sich somit Rückschlüsse auf die Oberflächenbeschaffenheit ziehen.
- maximaler Abtastbereich 100 µm x 100 µm x 4 µm
- geeignet für die Verwendung als Rasterkraftmikroskop/AFM und Rastertunnelmikroskop/STM
- Betriebsmodi: Contact mode, Non-contact mode, Tapping mode
- zusätzliche Kamera zur Überwachung des Messvorgangs
