Ellipsometer SENresearch SE 850 DUV 2C 16M

• Spektralbereich: 190 nm - 2500 nm
• Rechnergesteuertes Goniometer; 40° bis 90°; Winkelgenauigkeit 0,01°
• Mikrospot-Optik, 200 µm Spotdurchmesser. Der Messfleck auf der Probe beträgt bei einem Winkel von 70° im UV/VIS-Bereich ca. 200 µm × 600 µm.
• Step-Scan-Analysator-Prinzip
• Mit zwei temperaturstabilisierten Kompensator-Baugruppen zur Bestimmung aller 16 Elemente der Müller-Matrix
• Automatische Drehung der Probenplattform für Anisotropie- und 3D-Profil-Untersuchungen