Beugung niederenergetischer Elektronen (LEED)
Die Analyse von Beugungsbildern niederenergetischer Elektronen im Bereich von 10 eV bis wenige 100 eV gibt Informationen über
- Symmetrie der Oberfläche (und oberflächennaher Atomlagen)
- Rauheit der Oberfläche
Gefördert durch die Europäischen Union im Rahmen des Programms zur Förderung der Infrastruktur für Forschung, Entwicklung und Innovation (InfraFEI) des Europäischen Fonds für regionale Entwicklung (EFRE). Mehr Details zur Förderung auf der Projektseite InfraMOCha.
MethodeBereich öffnenBereich schließen
Zur Beugung niederenergetischer Elektronen (en: low-energy electron diffraction, LEED) werden üblicherweise Elektronen mit Energien im Bereich von 20 eV bis 200 eV genutzt. Bei dieser geringen Energie liegt die Eindringtiefe der Elektronen in das zu untersuchende Material bei wenigen Atomlagen. Das Beugungsbild wird auf einem phosphoreszierenden Schirm sichtbar und stellt die Oberfläche im reziproken Raum dar. Durch die Analyse der Positionen der Beugungsspots können die Oberflächensymmetrie und die Gitterkonstante in der Ebene der Oberfläche bestimmt werden.
Eine Analyse der Energieabhängigkeit der Beugungsspot-Intensität (I-V-LEED) gibt zudem die Möglichkeit die Positionen der Oberflächenatome inklusive der Gitterkonstante senkrecht zur Oberfläche noch präziser zu bestimmen.
SpezifikationenBereich öffnenBereich schließen
- µ-Metall Abschirmung
- 4-Gitter-LEED-Optik im Reverse View Design
- Elektronenquelle: lichtgeschirmte Miniatur-Elektronenquelle mit Thoria beschichtetem Ir-Haarnadel-Filament
- Primärenergie: bis 1keV
- Strahldurchmesser: bis < 1mm
- Schirmmaterial: Glas, mit leitender Schicht aus ITO und P43 cadmiumfreiem Phosphor
