Oberflächentechniken
SputternBereich öffnenBereich schließen
Bei diesem Verfahren wird das hochreine, feste Schichtmaterial (Metalle wie Titan, Chrom, Aluminium) durch den Beschuss mit Gasionen zerstäubt (Sputtern). Die herausgeschlagenen Atome und Atomcluster bewegen sich in alle Raumrichtungen und setzen sich auf einem zu beschichtenden Werkstück als dünner, fester Film ab.
Spotten von Biomolekülen auf OberflächenBereich öffnenBereich schließen
Mit dem Spotter können z.B Biomoleküle als kleine Tropfen auf Glasobjektträger oder anderen Oberflächen ortsaufgelöst aufgetragen werden. Dies benötigt man zur Herstellung von Biochips.
RasterelektronenmikroskopieBereich öffnenBereich schließen
Beim Rasterelektronenmikroskop (engl. scanning electron microscope - SEM) wird ein durch elektromagnetische Linsen fokussierter Elektronenstrahl reihenweise über die zu untersuchende Probe geführt (gerastert). Die dabei erzeugten Sekundärelektronen werden durch einen Detektor aufgenommen. Insbesondere Proben von guter elektrischer Leitfähigkeit und Materialien mit großen Ordnungszahlen lassen sich mit hoher Auflösung (3-4 nm) und großer Tiefenschärfe darstellen.
EDX-Modul (Erweiterung Rasterelektronenmikroskop)Bereich öffnenBereich schließen
Die EDX-Analyse (Energy Dispersive X-ray) erlaubt die lokale Elementanalyse, wodurch Elementverteilungsbilder möglich werden und Strukturen aus bspw. Partikeln chemisch untersucht werden können.
Plasmabehandlungen von OberflächenBereich öffnenBereich schließen
In einem Gasraum kann unter verringertem Druck durch elektrische Felder ein Plasma erzeugt werden. Dieses besteht aus Gasionen, freien Elektronen, Gasmolekülen und ist am typischen Leuchten gut zu erkennen. Man kann die Gasionen auf eine Oberfläche beschleunigen und diese somit reinigen. Man kann das Plasma aber auch zur Abscheidung von Polymeren aus Monomerdämpfen benutzen.
ElektrospinnanlageBereich öffnenBereich schließen
Beim Elektrospinnens wird eine Polymerlösung konstant durch eine Nadel in ein angelegtes Hochspannungsfeld (0-25 kV) gepumpt. Die Nadel der Spritze dient hierbei als eine der Elektroden, auf der zweiten Elektrode liegt das zu beschichtende Objekt. Durch die Wechselwirkung mit dem Hochspannungsfeld sowie dem Verdampfen des Lösungsmittels entsteht ein Polymerfaden, der stark bewegt wird und sich letztlich auf der Bodenelektrode als Netzwerk ablegt. Im Ergebnis bilden sich polymere Vliese mit unterschiedlichen Faserdurchmessern und -abständen. Zudem können auch andere Materialien in das Netzwerk eingebettet werden.
EllipsometrieBereich öffnenBereich schließen
Die Ellipsometrie ist ein Messverfahren der Materialforschung und der Oberflächenphysik, das polarisiertes Licht nutzt und mit dem die Schichtdicke dünner Schichten bestimmt werden kann.
KontaktwinkelmessungenBereich öffnenBereich schließen
Als Kontaktwinkel (auch Randwinkel oder Benetzungswinkel) wird der Winkel bezeichnet, den ein Flüssigkeitstropfen auf der Oberfläche eines Feststoffs zu dieser Oberfläche bildet. Kontaktwinkelmessung dienen also der Charakterisierung von Oberflächen und ihrer Modifizierung.
AFM (Rasterkraftmikroskop)Bereich öffnenBereich schließen
Das Rasterkraftmikroskop, seltener Atomkraftmikroskop (engl. atomic/scanning force microscope; Abkürzungen AFM), ist ein spezielles Rastersondenmikroskop. Es ist ein wichtiges Werkzeug in der Oberflächenchemie und dient zur mechanischen Abtastung von Oberflächen und der Messung atomarer Kräfte auf der Nanometerskala.
